DEA 520 es un topógrafo corneal multipropósito que integra el análisis de la topografíacorneal y del ojo seco.
Miles de puntos de medición: garantizan más datos disponibles y un análisis preciso Diseño decono más pequeño: área de proyección más grande 3 iluminaciones: iluminación blanca, iluminacióninfrarroja, iluminación azul cobalto
El diseño de integración permite la máxima utilización de la sala de tratamientoDiagnóstico de ojo seco y análisis topográfico integrados Pantalla táctil de 10,1″,fácil de operar
Informe de diagnóstico visualizado, fácil de entender La conexión de pantalla externapermite la observación en tiempo real
Interfaz
completa para 7 exámenes de ojo seco.
NIBUT:
Proyección de anillo de Plácido de más de 8,8 mm de diámetro. Identificaautomáticamente el área de rotura y analiza NIBUT de forma inteligente.
Observe la capa lipídica dinámica y su distribución mediante una grabación de video,comparándola con plantillas estándar. Esto es útil para evaluar la DMG.
La imagen de alta resolución admite el zoom para cumplir con los requisitos del examen dela forma general del margen del párpado y sus ligeros cambios.
El filtro amarillo integrado, especialmente diseñado y con iluminación azul cobalto,mejora el contraste de la imagen corneal con fluoresceína sódica. Aumenta eficazmente latasa de tinción positiva temprana del epitelio corneal.
Se creará una imagen simulada con fluoresceína basada en la córnea del paciente. El sistemarecomendará varias lentes adecuadas, lo que agiliza el proceso y excluye las lentes no aptas,evitando así que el paciente tenga que realizar varias tinciones de fluoresceína reales.
Investigación y desarrollo con el equipo SOS del Hospital de Otorrinolaringología de laUniversidad de Fudan. Recomendamos la lente más precisa según la documentación del paciente.
El análisis de aberración del frente de onda de Zernike permite visualizar el plan decirugías de cataratas y refractivas y garantiza la calidad de la visión posoperatoriadel paciente.
4 mapas proporcionan curvatura sagital, curvatura tangencial, mapa de elevación, poderrefractivo y valor K1/K2/Km/Astig/Ecc.